SSD日本shishido-衰減測定器

適用于測量薄膜、平板、線、布、地毯、玻璃等不同材料的靜電耗散性的靜電衰減測定器。

是一款適合于檢測材料的靜電擴(kuò)散性的靜電衰減測定器,將由電暈放電生成的空氣離子對試樣進(jìn)行照射使其帶電,測量停止空氣離子照射后的電荷衰減曲線。

• 本裝置符合織物及針織品的帶電性試驗方法JIS L1094-1980的半衰期測定器標(biāo)準(zhǔn)。(測頭高度15mm時)

• 試樣的帶電方法采用由電暈放電生成的空氣離子進(jìn)行照射的方法,通過選擇電暈放電的極性和外加電壓既可使試樣帶正電也可使試樣帶負(fù)電,還可改變電壓值。

• 薄膜、板、線、布、地毯、玻璃等,只要是薄板狀的試樣都能測定。

SSD日本shishido-衰減測定器

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• 型號	H-0110
  輸入電源	AC100 V±10%(50/60 Hz)
  容量	100 VA
  高壓電源輸出	HV(電暈放電外加電壓) 0~10 kV CAL(校正用外加電壓) 0~3 kW
  工作溫度范圍	0～40 °C
  工作濕度范圍	20~90%RH 不結(jié)露
  容許環(huán)境溫度	0～40 °C
  輸出信號	ANALYZER用端子　分析器用 SYNC端子　示波器用 電壓　0~±10V 精度　約10%
  主體尺寸	420x450x280 mm(WxHxD)
  重量	約33 kg
  附件	電源電纜1根、信號電纜1根、 校正用器具&平衡器1套、六角扳手2個、保險絲2A 3個

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